12月11日，第七届北京电控科技创新大会在北京798艺术区成功举办。为深入落实“一二二一”核心战略，全面开启“十五五”新征程，大会集中展示了“十四五”期间的优秀创新成果，并隆重颁发了第七届科技创新成果奖，北电检测两项自主研发的核心技术成果荣获奖项。

“基于白光干涉显微术的微纳三维形貌特征测量系统研发”项目荣获“产品创新奖三等奖”，其对应的显示面板彩膜垫料形貌测量设备，成功实现关键技术自主突破，打破了该领域长期由国外主导的局面。

“集成电路微纳形貌测量与表征的远、近场孪生技术研究与应用”项目荣获“技术创新奖”，其对应的半导体微纳形貌AFM设备，是集成全自动原子力显微镜与白光干涉轮廓仪的创新产品，实现了跨尺度高效测量，关键技术指标接近国际先进水平。

此次获奖的两项成果，集中体现了北电检测作为北京电控半导体量检测设备及关键零部件平台，在核心技术攻关与自主创新方面取得的重要进展。作为国家级专精特新“小巨人”企业，北电检测始终坚持创新驱动发展，围绕光学成像、AI智能图像数据处理、高精密运动控制等关键技术，系统构建自主创新能力。“十四五”以来，公司已在相关领域成功突破10余项关键技术，产品覆盖从晶圆前道制程到先进封装的多工艺站点。

面向未来，北电检测将继续秉持“科技提升价值 创新洞见未来”的使命，深化在高端量检测设备领域的研发与制造，加速创新成果的产业化应用，通过整机与精密零部件协同创新发展，为北京电控构建“芯屏智融”产业生态做出更大贡献。